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隔離器件耐壓測(cè)試的裝置、制造方法及耐壓測(cè)試的方法

專利號(hào)
CN115356606B
公開日期
2025-04-29
申請(qǐng)人
北京芯可鑒科技有限公司; 北京智芯微電子科技有限公司(北京市昌平區(qū)雙營(yíng)西路79號(hào)院中科云谷園11號(hào)樓一層)
發(fā)明人
趙東艷; 王于波; 陳燕寧; 鐘明琛; 單書珊; 張肖; 鹿祥賓
IPC分類
G01R31/16; G01R31/20
技術(shù)領(lǐng)域
隔離器,隔離,耐壓,測(cè)試,pcb,夾板,夾具,公開,器件,底座
地域: 北京市 北京市昌平區(qū)

摘要

本公開涉及電力技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種隔離器件耐壓測(cè)試的裝置、制造方法及耐壓測(cè)試的方法,所述裝置包括:一對(duì)夾具、PCB板、金屬和底座;所述一對(duì)夾具固定于所述底座上;每個(gè)夾具包括上夾板和下夾板,所述下夾板上設(shè)置所述PCB板,所述PCB板上設(shè)置所述金屬;其中,當(dāng)隔離器的兩側(cè)端子分別接觸所述金屬短接時(shí),所述隔離器與所述底座之間為空氣隔開。本公開提供的裝置,隔離器與底座之間由空氣隔開,利用空氣絕緣性較好的原理,可以大大提高隔離器耐壓測(cè)試的上限,防止在隔離器測(cè)試過程當(dāng)中,因測(cè)試工裝自身耐壓不足產(chǎn)生閃絡(luò)、火花等擊穿現(xiàn)象,從而可以在較高的測(cè)試電壓下測(cè)試隔離器,能夠更加全面的評(píng)估隔離器的性能指標(biāo)。

說明書

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[0031] 另外還需要說明的是,在不沖突的情況下,本公開中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。 [0032] 隨著電力工業(yè)的快速發(fā)展,CMOS工藝的不斷進(jìn)步,數(shù)字隔離器以其高可靠性和高速性代替?zhèn)鹘y(tǒng)光耦成為隔離器件的市場(chǎng)主流產(chǎn)品,這些隔離器從研發(fā)到生產(chǎn)到投入市場(chǎng),均需在特定時(shí)期進(jìn)行批量抽檢,以保證其功能性能符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。在眾多的檢測(cè)項(xiàng)目中,隔離器的耐壓測(cè)試是該類產(chǎn)品最為基礎(chǔ)也最為重要的檢測(cè)項(xiàng)目。 [0033] 隔離器的耐壓測(cè)試需要將隔離器放置在測(cè)試工裝上進(jìn)行,因此測(cè)試工裝的耐壓等級(jí)應(yīng)當(dāng)大于隔離器,否則一旦發(fā)生閃絡(luò)、火花等擊穿現(xiàn)象無法判定是測(cè)試工裝導(dǎo)致的不合格還是隔離器本身的耐壓等級(jí)不夠?qū)е碌牟缓细瘛,F(xiàn)有測(cè)試工裝往往最高僅能承受6KV的耐壓測(cè)試,因此如何設(shè)計(jì)一款耐高電壓的測(cè)試工裝成為亟需解決的問題。 [0034] 下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本公開。 [0035] 隔離器耐壓測(cè)試是為了測(cè)試隔離器在規(guī)定條件下承受高電壓而不被擊穿的能力。 [0036] 測(cè)試時(shí),隔離器第一側(cè)端子和第二側(cè)端子分別連接在一起,形成一個(gè)雙側(cè)器件。試驗(yàn)電壓施加在隔離器兩側(cè)之間,其有效值應(yīng)在5秒內(nèi)從0V均勻上升至待測(cè)值并保持至少60秒(若進(jìn)行耐壓壽命測(cè)試,則根據(jù)加速壽命測(cè)試?yán)碚撚?jì)算出相應(yīng)的測(cè)試時(shí)長(zhǎng))。測(cè)試過程中不能發(fā)生閃絡(luò)、火花等擊穿現(xiàn)象,漏電流不能超過10mA,測(cè)試電路連接如圖1所示,其中G為電源電壓,V為隔離器的測(cè)試電壓。 [0037] 圖2示出根據(jù)本公開實(shí)施例的隔離器件耐壓測(cè)試的裝置的主視圖,圖3示出根據(jù)本公開實(shí)施例的隔離器件耐壓測(cè)試的裝置的俯視圖。如圖2?圖3所示,所述隔離器件耐壓測(cè)試裝置包括:一對(duì)夾具100、PCB板200、金屬300和底座400;所述一對(duì)夾具100固定于所述底座 400上;每個(gè)夾具包括上夾板和下夾板,所述下夾板上設(shè)置所述PCB板200,所述PCB板200上設(shè)置所述金屬300;其中,當(dāng)隔離器的兩側(cè)端子分別接觸所述金屬300短接時(shí),所述隔離器與所述底座400之間為空氣隔開。 [0038] 本公開提供的裝置,通過隔離器與底座之間由空氣隔開,利用空氣絕緣性較好的原理,可以大大提高隔離器耐壓測(cè)試的上限,防止在隔離器測(cè)試過程當(dāng)中,因測(cè)試工裝自身耐壓不足產(chǎn)生閃絡(luò)、火花等擊穿現(xiàn)象,從而可以在較高的測(cè)試電壓下測(cè)試隔離器,能夠更加全面的評(píng)估隔離器的性能指標(biāo)。 [0039] 在本公開實(shí)施例中,隔離器放置在一對(duì)夾具100的下夾板上,并被上夾板固定。一些實(shí)施例中,所述一對(duì)夾具100之間的距離可以調(diào)整,從而適配不同型號(hào)隔離器的寬度。 [0040] 在本公開實(shí)施例中,所述下夾板、PCB板200上分別設(shè)置有安裝孔210。通過固定件 500,例如鎖緊螺絲穿過安裝孔210,將下夾板、PCB板200固定,同時(shí)可以在底座400上設(shè)置適配固定件500的安裝孔,從而整體上將夾具100固定于底座400上。 [0041] 在本公開實(shí)施例中,所述金屬300敷在所述PCB板200的區(qū)域包括:第一區(qū)域310以及第二區(qū)域320;其中,所述第一區(qū)域310由所述下夾板的邊沿向內(nèi)延伸形成,所述第二區(qū)域 320距離所述下夾板的邊沿預(yù)設(shè)距離。 [0042] 具體地,金屬300可以是銅、鎳、金等,以銅為例,PCB板200上的覆銅區(qū)域并不是整體覆銅的,而是局部覆銅,例如第一區(qū)域310、第二區(qū)域320表面覆銅,第一區(qū)域310覆銅用于隔離器的兩側(cè)端子與銅接觸短接,第二區(qū)域320敷銅用于與測(cè)試電源的接線端相連接,給隔離器提供電力,其中,第一區(qū)域310與第二區(qū)域320的敷銅部分連為一體。通過設(shè)置距離下夾板的邊沿預(yù)設(shè)距離的第二區(qū)域320,作為測(cè)試電源的接線端,能夠防止PCB板的切割工藝可能導(dǎo)致的測(cè)試電源的正負(fù)極短接,避免隔離器進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí)直接被擊穿。 [0043] 進(jìn)一步地,本公開方式中,除第一區(qū)域310、第二區(qū)域320外,PCB板200上并無任何導(dǎo)電金屬,進(jìn)一步避免了測(cè)試電源的正負(fù)極短接。 [0044] 在本公開實(shí)施例中,所述一對(duì)夾具100和/或所述底座400的材質(zhì)為絕緣材料。 [0045] 具體地,所述一對(duì)夾具100的材質(zhì)可以為塑料等絕緣材料,采用塑料材質(zhì)也可以提高隔離器的測(cè)試電壓。另外,所述底座400的材質(zhì)可以為絕緣電木。

權(quán)利要求

1.一種隔離器件耐壓測(cè)試的裝置,其特征在于,包括:一對(duì)夾具、PCB板、金屬和底座;所述一對(duì)夾具固定于所述底座上;每個(gè)夾具包括上夾板和下夾板,所述下夾板上設(shè)置所述PCB板,所述PCB板上設(shè)置所述金屬;其中,當(dāng)隔離器的兩側(cè)端子分別接觸所述金屬短接時(shí),所述隔離器與所述底座之間為空氣隔開;所述一對(duì)夾具和/或所述底座的材質(zhì)為絕緣材料。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述金屬敷在所述PCB板的區(qū)域包括:第一區(qū)域以及第二區(qū)域;其中,所述第一區(qū)域由所述下夾板的邊沿向內(nèi)延伸形成,所述第二區(qū)域距離所述下夾板的邊沿預(yù)設(shè)距離。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述下夾板、PCB板上分別設(shè)置有安裝孔。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述一對(duì)夾具之間形成空氣槽;所述空氣槽的寬度大于等于所述隔離器的封裝體寬度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述一對(duì)夾具的材質(zhì)為塑料。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述底座的材質(zhì)為絕緣電木。
7.如權(quán)利要求1?6任一項(xiàng)所述的裝置的制造方法,其特征在于,包括如下步驟:
PCB板的第一區(qū)域、第二區(qū)域敷有金屬;
沿第一區(qū)域切割PCB板;
將切割后的PCB板固定于下夾板,然后將一對(duì)夾具固定于底座。
8.一種利用如權(quán)利要求1?6任一項(xiàng)所述的裝置進(jìn)行隔離器件耐壓測(cè)試的方法,其特征在于,包括如下步驟:
將隔離器的兩側(cè)端子分別接觸金屬短接;
施加測(cè)試電壓在隔離器兩側(cè),并保持測(cè)試時(shí)長(zhǎng);
在測(cè)試時(shí)長(zhǎng)結(jié)束后確定測(cè)試結(jié)果。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其特征在于,所述測(cè)試電壓大于6千伏。
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