[0051] 本發(fā)明的一種用于機房設備帶電清洗的輔助定位方法，通過對目標熱紅外圖像進行數(shù)據(jù)處理，解決了對機房設備進行清洗的準確度低下的技術問題，提高了對機房設備進行清洗的準確度。首先，附著在機房設備上的表面污染往往會引起該機房設備發(fā)熱，其中，表面污染可以是待清洗的污染。因此，獲取基于熱輻射生成的待清洗機房設備的目標熱紅外圖像，可以便于后續(xù)定位附著在待清洗機房設備上的表面污染。接著，由于附著在機房設備上的表面污染往往會引起該機房設備發(fā)熱，并且機房設備的發(fā)熱區(qū)域與未發(fā)熱區(qū)域呈現(xiàn)在目標熱紅外圖像上時，兩者的亮度和對應在灰度直方圖中的灰度值往往不同。并且，當發(fā)熱區(qū)域的熱度不同時，亮度和對應在灰度直方圖中的灰度值往往也不同。因此，通過灰度直方圖，確定自適應切割閾值，可以便于后續(xù)區(qū)分不同發(fā)熱程度的區(qū)域是否為待清洗區(qū)域。然后，附著在機房設備上的表面污染往往會引起該機房設備發(fā)熱，往往對應目標熱紅外圖像中灰度值較高的像素點。所以將高亮像素點集合篩選出來，可以便于后續(xù)定位機房設備上的表面污染區(qū)域。并且后續(xù)可以只需對高亮像素點集合進行處理，可以減少冗余計算量，減少計算資源的占用。繼續(xù)，熱源往往對周圍存在輻射范圍。熱源區(qū)域往往可能是表面污染區(qū)域。輻射范圍區(qū)域往往是熱源對周圍進行輻射產生的區(qū)域。所以，區(qū)分熱源區(qū)域和輻射范圍區(qū)域可以防止將熱源區(qū)域和輻射范圍區(qū)域整個作為表面污染區(qū)域，可以進一步精確定位表面污染區(qū)域。之后，當機房設備正常運行時，由熱源區(qū)域邊緣向外圍的熱輻射的范圍往往比較統(tǒng)一，即熱輻射區(qū)域對應的輻射長度集合中的輻射長度往往差別較小。但表面污染（如，灰塵）往往在機房設備上隨機堆積，堆積密度往往不同。堆積密度不同時往往對機房設備內部電路的干擾程度也不同，因此，受灰塵堆積產生的機房設備往往過熱，并且熱源區(qū)域邊緣向外圍的熱輻射范圍往往相差較多，即熱輻射區(qū)域對應的輻射長度集合中的輻射長度往往差別較大。因此，確定熱輻射區(qū)域對應的輻射長度集合，可以便于后續(xù)判斷熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域是否為待清洗的表面污染區(qū)域。最后，根據(jù)上述待清洗熱輻射區(qū)域集合，確定上述待清洗機房設備對應的目標清洗位置信息，并對目標清洗位置信息對應的位置進行清洗。其中，待清洗熱輻射區(qū)域集合中的待清洗熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域往往是待清洗的表面污染區(qū)域，所以待清洗熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域的位置，往往是待清洗的位置。因此，本發(fā)明通過對目標熱紅外圖像進行數(shù)據(jù)處理，解決了對機房設備進行清洗的準確度低下的技術問題，提高了對機房設備進行清洗的準確度，可以避免清潔資源的浪費。 附圖說明 [0052] 為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案和優(yōu)點，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它附圖。 [0053] 圖1為根據(jù)本發(fā)明的一種用于機房設備帶電清洗的輔助定位方法的流程圖； [0054] 圖2為根據(jù)本發(fā)明的目標排列方式示意圖； [0055] 圖3為根據(jù)本發(fā)明的熱源線段和輻射線段示意圖。 具體實施方式 [0056] 為了更進一步闡述本發(fā)明為達成預定發(fā)明目的所采取的技術手段及功效，以下結合附圖及較佳實施例，對依據(jù)本發(fā)明提出的技術方案的具體實施方式、結構、特征及其功效，詳細說明如下。在下述說明中，不同的“一個實施例”或“另一個實施例”指的不一定是同一個實施例。此外，一個或多個實施例中的特定特征、結構或特點可由任何合適形式組合。 [0057] 除非另有定義，本文所使用的所有的技術和科學術語與屬于本發(fā)明的技術領域的技術人員通常理解的含義相同。 [0058] 本發(fā)明提供了一種用于機房設備帶電清洗的輔助定位方法，該方法包括以下步驟： [0059] 獲取待清洗機房設備的目標熱紅外圖像，并確定目標熱紅外圖像的灰度直方圖； [0060] 對灰度直方圖進行圖像數(shù)據(jù)處理，確定自適應切割閾值； [0061] 根據(jù)自適應切割閾值，從目標熱紅外圖像中篩選出高亮像素點集合； [0062] 對高亮像素點集合中的高亮像素點進行篩選生長處理，得到熱輻射區(qū)域集合； [0063] 對于熱輻射區(qū)域集合中的每個熱輻射區(qū)域，從熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域和輻射范圍區(qū)域中篩選出邊緣像素點，并根據(jù)篩選出的邊緣像素點，確定熱輻射區(qū)域對應的輻射長度集合； [0064] 根據(jù)熱輻射區(qū)域集合中的各個熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域和熱輻射區(qū)域對應的輻射長度集合，從熱輻射區(qū)域集合中篩選出待清洗熱輻射區(qū)域集合； [0065] 根據(jù)待清洗熱輻射區(qū)域集合，確定待清洗機房設備對應的目標清洗位置信息，并對目標清洗位置信息對應的位置進行清洗。 [0066] 下面對上述各個步驟進行詳細展開：

根據(jù)所述熱輻射區(qū)域集合中的每個熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域和所述熱輻射區(qū)域對應的輻射長度集合，確定所述熱輻射區(qū)域對應的待清洗識別指標； 根據(jù)預先設置的待清洗閾值和所述熱輻射區(qū)域集合中的各個熱輻射區(qū)域對應的待清洗識別指標，從所述熱輻射區(qū)域集合中篩選出待清洗熱輻射區(qū)域集合。 7.根據(jù)權利要求6所述的一種用于機房設備帶電清洗的輔助定位方法，其特征在于，所述確定所述熱輻射區(qū)域對應的待清洗識別指標對應的公式為： 其中，F(xiàn)是所述熱輻射區(qū)域對應的待清洗識別指標，th(?)是雙曲正切函數(shù)，N是所述熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域中灰度值的數(shù)量，v是所述熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域中灰度值的序號， 是所述熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域中對應的灰度值等于第v個灰度值的像素點的數(shù)量，H是所述熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域中像素點的數(shù)量，ln(?)是以自然常數(shù)為底數(shù)的對數(shù)函數(shù)，是所述熱輻射區(qū)域對應的輻射長度集合中的輻射長度的標準差， 為取歐式范數(shù)函數(shù)，為取絕對值函數(shù)，A和B是預先設置的數(shù)值，是所述熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域中的像素點對應的灰度值的均值， 是所述熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域中的像素點對應的灰度值中的最大值。 8.根據(jù)權利要求6所述的一種用于機房設備帶電清洗的輔助定位方法，其特征在于，所述根據(jù)預先設置的待清洗閾值和所述熱輻射區(qū)域集合中的各個熱輻射區(qū)域對應的待清洗識別指標，從所述熱輻射區(qū)域集合中篩選出待清洗熱輻射區(qū)域集合，包括： 當所述熱輻射區(qū)域集合中的熱輻射區(qū)域對應的待清洗識別指標小于或等于待清洗閾值時，將熱輻射區(qū)域包括的熱源區(qū)域，確定為待清洗熱輻射區(qū)域。 9.根據(jù)權利要求8所述的一種用于機房設備帶電清洗的輔助定位方法，其特征在于，所述根據(jù)所述待清洗熱輻射區(qū)域集合，確定所述待清洗機房設備對應的目標清洗位置信息，包括： 將所述待清洗熱輻射區(qū)域集合中的各個待清洗熱輻射區(qū)域的位置，組合為所述待清洗機房設備對應的目標清洗位置信息。