電芯檢測方法、裝置、存儲介質(zhì)及計算機程序產(chǎn)品 技術(shù)領(lǐng)域 [0001] 本申請涉及缺陷檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種電芯檢測方法、裝置、存儲介質(zhì)及 計算機程序產(chǎn)品。 背景技術(shù) [0002] 為提升電池性能，需對電芯進(jìn)行缺陷檢測。對于電芯，其對應(yīng)的相鄰陰極極片與陽 極極片之間的距離過大，易造成電池析鋰，從而降低電池性能，縮短電池壽命。由此可見，檢 測電芯的相鄰陰極極片與陽極極片之間的距離，提升陰極極片與陽極極片之間距離的檢測 精準(zhǔn)度，對電芯的缺陷檢測具有重要的意義。 發(fā)明內(nèi)容 [0003] 本申請?zhí)峁┮环N電芯檢測方法、裝置、存儲介質(zhì)及計算機程序產(chǎn)品、裝置，其能提 升電芯陰極極片與陽極極片之間的間隔的準(zhǔn)確度，進(jìn)而提升電芯缺陷檢測的準(zhǔn)確度。 [0004] 第一方面，本申請?zhí)峁┝艘环N電芯檢測方法，該方法包括：從電芯截面圖像中識別 電芯極片所在的第一區(qū)域圖像，第一區(qū)域圖像中包括多個輪廓；根據(jù)第一濾波閾值對第一 區(qū)域圖像的多個輪廓進(jìn)行濾波處理，得到包含極片輪廓的第二區(qū)域圖像，其中，第一濾波閾 值由第一區(qū)域圖像的像素灰度值所確定；根據(jù)第二區(qū)域圖像中的極片輪廓以及像素灰度， 分別從第二區(qū)域圖像中識別陰極極片輪廓和陽極極片輪廓；檢測相鄰的陰極極片輪廓和陽 極極片輪廓之間的間距，得到極片間隔。 [0005] 在本申請實施例中，采用圖像濾波的方式對電芯的截面圖像進(jìn)行濾波，從而得到 僅包含陰極極片和陽極極片的第二區(qū)域圖像，減少原始截面圖像中的其他部分對檢測結(jié)果 的影響，以提升檢測結(jié)果的準(zhǔn)確度。 [0006] 另外，在本申請實施例中，從第二區(qū)域圖像中自動提取陰極極片輪廓和陽極極片 輪廓，并自動檢測相鄰層級的陰極極片與陽極極片之間的間隔，從而無需人工提取，降低了 人工檢測極片所存在的誤檢、漏檢的風(fēng)險，提升了電芯檢測的準(zhǔn)確度。 [0007] 由此可見，采用本申請實施例所提供的方案，可提升電芯陰極極片與陽極極片之 間的間隔的準(zhǔn)確度，進(jìn)而提升了電芯缺陷檢測的準(zhǔn)確度。 [0008] 在一些實施例中，從電芯截面圖像中識別電芯極片所在的第一區(qū)域圖像，包括：通 過第二濾波閾值對電芯截面圖像進(jìn)行濾波處理，得到包含多個輪廓的第三區(qū)域圖像，其中， 第二濾波閾值由電芯截面圖像的像素灰度值所確定；確定第三區(qū)域圖像所包含輪廓的外接 圖形；根據(jù)第一預(yù)設(shè)條件以及第三區(qū)域圖像所包含輪廓的外接圖形，對電芯截面圖像進(jìn)行 處理，得到包含電芯極片的第一區(qū)域圖像，第一預(yù)設(shè)條件根據(jù)外接圖形的尺寸所確定。 [0009] 通過采用閾值濾波的方式從電芯截面圖像中識別出包含電芯極片的第一區(qū)域圖 像，以濾除電芯截面圖像中非電芯部分的數(shù)據(jù)，降低非電芯部分?jǐn)?shù)據(jù)對檢測結(jié)果的影響，從 而電芯極片間隔的檢測準(zhǔn)確度。 [0010] 在一些實施例中，在通過第二濾波閾值對電芯截面圖像進(jìn)行濾波處理，得到包含 輪廓的第三區(qū)域圖像之前，通過第一卷積核對電芯截面圖像進(jìn)行圖像卷積，得到電芯截面 圖像對應(yīng)的第一輪廓數(shù)據(jù)；計算第一輪廓數(shù)據(jù)所對應(yīng)的像素灰度標(biāo)準(zhǔn)差；在第一系數(shù)大于 預(yù)設(shè)的第一標(biāo)準(zhǔn)差閾值的情況下，將第一系數(shù)確定為第二濾波閾值，其中，第一系數(shù)為預(yù)設(shè) 的第一標(biāo)準(zhǔn)差系數(shù)與像素灰度標(biāo)準(zhǔn)差的乘積；在第一系數(shù)小于或等于第一標(biāo)準(zhǔn)差閾值的情 況下，將第一標(biāo)準(zhǔn)差閾值確定為第二濾波閾值。 [0011] 由于第二濾波閾值根據(jù)電芯截面圖像的不同而自適應(yīng)變化，即在本申請實施例中 采用與電芯截面圖像相適配的濾波閾值對電芯截面圖像進(jìn)行濾波，因此，采用上述方案可 以提升圖像濾波的準(zhǔn)確度，為電芯極片間隔的準(zhǔn)確檢測提供的基礎(chǔ)。 [0012] 在一些實施例中，在電芯為卷繞電芯的情況下，根據(jù)第一預(yù)設(shè)條件以及第三區(qū)域 圖像所包含輪廓的外接圖形，對電芯截面圖像進(jìn)行處理，得到包含電芯極片的第一區(qū)域圖 像，包括：從第三區(qū)域圖像中濾除外接圖形滿足第一預(yù)設(shè)條件的輪廓，得到多個極片輪廓； 從多個極片輪廓中獲取外接圖形面積最大的第一目標(biāo)極片輪廓；從電芯截面圖像中裁剪出 第一目標(biāo)外接圖形所在的區(qū)域，得到第一區(qū)域圖像，其中，第一目標(biāo)外接圖形為由第一目標(biāo) 極片輪廓所確定的外接圖形。 [0013] 通過確定極片輪廓對應(yīng)的外接圖形，并使用外接圖形對電芯截面圖形進(jìn)行裁剪， 濾除非電芯部分，以得到電芯極片所在的第一區(qū)域圖像，從而降低非電芯部分對電芯檢測 結(jié)果的影響，為電芯極片間隔的準(zhǔn)確檢測提供了基礎(chǔ)。 [0014] 在一些實施例中，在從多個極片輪廓中獲取外接圖形面積最大的第一目標(biāo)極片輪 廓之后，對第一目標(biāo)極片輪廓的外接圖形進(jìn)行區(qū)域擴充，得到第一目標(biāo)外接圖形，以使第一 目標(biāo)外接圖形能夠容納全部的電芯極片，保證所有電芯極片均能進(jìn)行極片間隔的檢測。 [0015] 在一些實施例中，第一預(yù)設(shè)條件包括如下至少之一：極片輪廓的外接圖形在第一 方向上的尺寸小于第一數(shù)值，其中，第一數(shù)值由電芯的物理特性以及圖像采集設(shè)備在第一 方向上的放大倍率所確定；極片輪廓的外接圖形在第二方向上的尺寸小于第二數(shù)值，其中，

1.一種電芯檢測方法，其特征在于，包括： 從電芯截面圖像中識別電芯極片所在的第一區(qū)域圖像，所述第一區(qū)域圖像中包括多個輪廓； 根據(jù)第一濾波閾值對所述第一區(qū)域圖像的多個輪廓進(jìn)行濾波處理，得到包含極片輪廓的第二區(qū)域圖像，其中，所述第一濾波閾值由所述第一區(qū)域圖像的像素灰度值所確定； 根據(jù)所述第二區(qū)域圖像中的極片輪廓以及像素灰度，分別從所述第二區(qū)域圖像中識別陰極極片輪廓和陽極極片輪廓； 檢測相鄰的陰極極片輪廓和陽極極片輪廓之間的間距，得到極片間隔； 其中，根據(jù)所述第二區(qū)域圖像中的極片輪廓以及像素灰度，分別從所述第二區(qū)域圖像中識別陰極極片輪廓和陽極極片輪廓，包括：從所述第二區(qū)域圖像中識別出外接圖形滿足第二預(yù)設(shè)條件的極片輪廓，得到所述陰極極片輪廓；基于目標(biāo)灰度閾值對所述第二區(qū)域圖像進(jìn)行濾波處理，得到處理后的第二區(qū)域圖像，其中，所述目標(biāo)灰度閾值為由所述第二區(qū)域圖像中的像素灰度值所確定；以所述陰極極片輪廓作為掩碼，從所述處理后的第二區(qū)域圖像中提取所述陽極極片輪廓。 2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，從電芯截面圖像中識別電芯極片所在的第一區(qū)域圖像，包括： 通過第二濾波閾值對所述電芯截面圖像進(jìn)行濾波處理，得到包含多個輪廓的第三區(qū)域圖像，其中，所述第二濾波閾值由所述電芯截面圖像的像素灰度值所確定； 確定所述第三區(qū)域圖像所包含輪廓的外接圖形； 根據(jù)第一預(yù)設(shè)條件以及所述第三區(qū)域圖像所包含輪廓的外接圖形，對所述電芯截面圖像進(jìn)行處理，得到包含所述電芯極片的第一區(qū)域圖像，所述第一預(yù)設(shè)條件根據(jù)外接圖形的尺寸所確定。 3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，在通過第二濾波閾值對所述電芯截面圖像進(jìn)行濾波處理，得到包含輪廓的第三區(qū)域圖像之前，所述方法還包括： 通過第一卷積核對所述電芯截面圖像進(jìn)行圖像卷積，得到所述電芯截面圖像對應(yīng)的第一輪廓數(shù)據(jù)； 計算所述第一輪廓數(shù)據(jù)所對應(yīng)的像素灰度標(biāo)準(zhǔn)差； 在第一系數(shù)大于預(yù)設(shè)的第一標(biāo)準(zhǔn)差閾值的情況下，將所述第一系數(shù)確定為所述第二濾波閾值，其中，所述第一系數(shù)為預(yù)設(shè)的第一標(biāo)準(zhǔn)差系數(shù)與所述像素灰度標(biāo)準(zhǔn)差的乘積； 在所述第一系數(shù)小于或等于所述第一標(biāo)準(zhǔn)差閾值的情況下，將所述第一標(biāo)準(zhǔn)差閾值確定為所述第二濾波閾值。