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一種具有環(huán)境補(bǔ)償功能的MEMS光纖壓力傳感探頭

專利號(hào)
CN119533728B
公開(kāi)日期
2025-03-28
申請(qǐng)人
浙江億路益?zhèn)鞲衅饔邢薰?span id="kunk6x7v9" class="geo-highlight">(浙江省溫州市樂(lè)清市北白象鎮(zhèn)聯(lián)芳村興塘路5-9號(hào))
發(fā)明人
鄭趙多; 王科巍; 張學(xué)武; 鄭獻(xiàn)勤; 陳偉; 葉小東
IPC分類
G01L1/24; G01L1/26; G01L11/02; G01L19/00; G01L19/04
技術(shù)領(lǐng)域
補(bǔ)償,布拉格,拉格,干擾,參量,曲線,光纖,環(huán)境,光纖光柵傳感器,波長(zhǎng)
地域: 浙江省 浙江省溫州市

摘要

本發(fā)明涉及利用光學(xué)手段進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種具有環(huán)境補(bǔ)償功能的MEMS光纖壓力傳感探頭,包括光發(fā)射部件、光纖光柵傳感器本體、光電探測(cè)器和補(bǔ)償部件,補(bǔ)償部件包括環(huán)境參數(shù)檢測(cè)模塊和數(shù)據(jù)處理器,環(huán)境參數(shù)檢測(cè)模塊獲取目標(biāo)時(shí)間段的環(huán)境參數(shù),數(shù)據(jù)處理器獲取環(huán)境參數(shù)對(duì)檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生的干擾影響;根據(jù)光纖光柵傳感器本體的實(shí)際布拉格波長(zhǎng)和原本布拉格波長(zhǎng),光譜曲線中實(shí)際布拉格波長(zhǎng)前后的曲線特征,以及干擾影響,獲取光纖光柵傳感器本體對(duì)于環(huán)境參數(shù)的受干擾程度;根據(jù)干擾影響和受干擾程度,獲取補(bǔ)償參量,從而對(duì)光譜曲線進(jìn)行補(bǔ)償,完成對(duì)壓力檢測(cè)過(guò)程中的環(huán)境因素的影響,有效提高壓力檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可信度。

說(shuō)明書

1 2 3 4 5 6
一種具有環(huán)境補(bǔ)償功能的MEMS光纖壓力傳感探頭 技術(shù)領(lǐng)域 [0001] 本發(fā)明涉及利用光學(xué)手段進(jìn)行檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種具有環(huán)境補(bǔ)償功能的MEMS光纖壓力傳感探頭。 背景技術(shù) [0002] 隨著科技的進(jìn)步和工業(yè)自動(dòng)化的不斷發(fā)展,壓力傳感器在石油、化工、醫(yī)療、航空航天等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著愈發(fā)重要的作用。MEMS(微電機(jī)械系統(tǒng))技術(shù)的發(fā)展使得傳感器更加小型化、集成化,同時(shí)性能也大幅度提升。光纖技術(shù)的引入為MEMS壓力傳感器提供了更高的靈敏度和抗干擾能力,將光纖與MEMS相結(jié)合,能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的壓力監(jiān)測(cè)。 [0003] 現(xiàn)有的MEMS光纖壓力傳感探頭包括依次設(shè)置的光發(fā)射部件100、光纖光柵傳感器本體200和光電探測(cè)器300。圖1給出了一種現(xiàn)有的MEMS光纖壓力傳感探頭的具體結(jié)構(gòu),其中,光發(fā)射部件100包括激光源101、光纖102、準(zhǔn)直透鏡103、起偏器104和1/4波片105,光纖光柵傳感器本體200包括電光晶體201和檢偏器203,電光晶體201設(shè)置有敏感元件202(如MEMS膜片)。在MEMS光纖壓力傳感探頭進(jìn)行壓力檢測(cè)的過(guò)程中,首先激光源101發(fā)出單色光,通過(guò)光纖102傳輸?shù)綔?zhǔn)直透鏡103,準(zhǔn)直透鏡103將光束聚焦并準(zhǔn)直;光束經(jīng)過(guò)起偏器104后,光波的偏振狀態(tài)被調(diào)制;經(jīng)過(guò)1/4波片105后,偏振光波的偏振狀態(tài)進(jìn)一步調(diào)整,使其變?yōu)閳A偏振光;當(dāng)施加壓力給電光晶體201時(shí),敏感元件202(如MEMS膜片)會(huì)發(fā)生形變,電光晶體 201的折射率會(huì)因施加壓力而改變;經(jīng)過(guò)電光晶體201調(diào)制后的光信號(hào)到達(dá)檢偏器203。檢偏器203的作用是選擇性地過(guò)濾特定偏振狀態(tài)的光,以便于后續(xù)的信號(hào)檢測(cè);經(jīng)過(guò)檢偏器203的光信號(hào)最終到達(dá)光電探測(cè)器300;光電探測(cè)器300將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),用于后續(xù)分析。 [0004] 然而,環(huán)境因素(如溫度、濕度等)會(huì)影響MEMS光纖壓力傳感探頭的壓力測(cè)量的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性,因此對(duì)MEMS光纖壓力傳感探頭進(jìn)行環(huán)境補(bǔ)償尤為重要。 發(fā)明內(nèi)容 [0005] 有鑒于此,為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供一種具有環(huán)境補(bǔ)償功能的MEMS光纖壓力傳感探頭。 [0006] 所采用的技術(shù)方案具體如下: [0007] 一種具有環(huán)境補(bǔ)償功能的MEMS光纖壓力傳感探頭,包括依次設(shè)置的光發(fā)射部件、光纖光柵傳感器本體和光電探測(cè)器,還包括補(bǔ)償部件,所述光電探測(cè)器的輸出端連接所述補(bǔ)償部件,所述補(bǔ)償部件包括環(huán)境參數(shù)檢測(cè)模塊和數(shù)據(jù)處理器; [0008] 所述環(huán)境參數(shù)檢測(cè)模塊用于檢測(cè)目標(biāo)時(shí)間段的環(huán)境參數(shù),所述環(huán)境參數(shù)包括溫度和濕度中的至少一種; [0009] 所述數(shù)據(jù)處理器獲取所述目標(biāo)時(shí)間段的所述光纖光柵傳感器本體檢測(cè)到的光譜曲線,以及所述環(huán)境參數(shù),獲取所述補(bǔ)償環(huán)境參數(shù)對(duì)所述光纖光柵傳感器本體的檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生的干擾影響;根據(jù)所述光纖光柵傳感器本體的實(shí)際布拉格波長(zhǎng)和原本布拉格波長(zhǎng),所述光譜曲線中所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng)前后的曲線特征,以及所述干擾影響,獲取所述光纖光柵傳感器本體對(duì)于所述環(huán)境參數(shù)的受干擾程度;根據(jù)所述干擾影響和所述受干擾程度,獲取補(bǔ)償參量,根據(jù)所述補(bǔ)償參量對(duì)所述光譜曲線進(jìn)行補(bǔ)償。 [0010] 在一個(gè)實(shí)施方式中,所述干擾影響的獲取過(guò)程,包括: [0011] 獲取所述目標(biāo)時(shí)間段的環(huán)境參數(shù)對(duì)應(yīng)的環(huán)境參數(shù)數(shù)據(jù)序列中的各個(gè)極值點(diǎn),并根據(jù)相鄰的兩個(gè)極值點(diǎn)之間的環(huán)境參數(shù)的差異,得到環(huán)境參數(shù)波動(dòng)特征; [0012] 根據(jù)所述環(huán)境參數(shù)數(shù)據(jù)序列,獲取環(huán)境參數(shù)的變化趨勢(shì)特征,所述變化趨勢(shì)特征用于表征環(huán)境參數(shù)為上升或者下降的趨勢(shì)程度; [0013] 根據(jù)所述環(huán)境參數(shù)波動(dòng)特征和變化趨勢(shì)特征,得到所述干擾影響,所述干擾影響與所述環(huán)境參數(shù)波動(dòng)特征和變化趨勢(shì)特征均正相關(guān)。 [0014] 在一個(gè)實(shí)施方式中,所述光譜曲線中所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng)前后的曲線特征的獲取過(guò)程,包括: [0015] 根據(jù)所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng),將所述光譜曲線分割成第一曲線段和第二曲線段,所述第一曲線段為所述光譜曲線中所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng)之前的曲線段,所述第二曲線段為所述光譜曲線中所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng)之后的曲線段; [0016] 獲取所述第一曲線段和第二曲線段所處區(qū)域的面積,并獲取所述第一曲線段和第二曲線段所處區(qū)域的面積差異。 [0017] 在一個(gè)實(shí)施方式中,所述受干擾程度的獲取過(guò)程,包括: [0018] 根據(jù)所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng)和原本布拉格波長(zhǎng),獲取波長(zhǎng)差異; [0019] 根據(jù)所述面積差異、波長(zhǎng)差異和所述干擾影響,得到所述受干擾程度,所述受干擾程度與所述面積差異、波長(zhǎng)差異和所述干擾影響均正相關(guān)。 [0020] 在一個(gè)實(shí)施方式中,所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng)的獲取過(guò)程,包括:獲取所述光譜曲線中的最大峰值點(diǎn),將所述最大峰值點(diǎn)所處位置的波長(zhǎng)作為所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng); [0021] 所述原本布拉格波長(zhǎng)由所述光纖光柵傳感器本體的有效折射率和光柵周期計(jì)算得到。

權(quán)利要求

1 2
1.一種具有環(huán)境補(bǔ)償功能的MEMS光纖壓力傳感探頭,包括依次設(shè)置的光發(fā)射部件、光纖光柵傳感器本體和光電探測(cè)器,其特征在于,還包括補(bǔ)償部件,所述光電探測(cè)器的輸出端連接所述補(bǔ)償部件,所述補(bǔ)償部件包括環(huán)境參數(shù)檢測(cè)模塊和數(shù)據(jù)處理器; 所述環(huán)境參數(shù)檢測(cè)模塊用于檢測(cè)目標(biāo)時(shí)間段的環(huán)境參數(shù),所述環(huán)境參數(shù)包括溫度和濕度中的至少一種; 所述數(shù)據(jù)處理器獲取所述目標(biāo)時(shí)間段的所述光纖光柵傳感器本體檢測(cè)到的光譜曲線,以及所述環(huán)境參數(shù),獲取所述環(huán)境參數(shù)對(duì)所述光纖光柵傳感器本體的檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生的干擾影響;根據(jù)所述光纖光柵傳感器本體的實(shí)際布拉格波長(zhǎng)和原本布拉格波長(zhǎng),所述光譜曲線中所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng)前后的曲線特征,以及所述干擾影響,獲取所述光纖光柵傳感器本體對(duì)于所述環(huán)境參數(shù)的受干擾程度;根據(jù)所述干擾影響和所述受干擾程度,獲取補(bǔ)償參量,根據(jù)所述補(bǔ)償參量對(duì)所述光譜曲線進(jìn)行補(bǔ)償; 所述干擾影響的獲取過(guò)程,包括: 獲取所述目標(biāo)時(shí)間段的環(huán)境參數(shù)對(duì)應(yīng)的環(huán)境參數(shù)數(shù)據(jù)序列中的各個(gè)極值點(diǎn),并根據(jù)相鄰的兩個(gè)極值點(diǎn)之間的環(huán)境參數(shù)的差異,得到環(huán)境參數(shù)波動(dòng)特征; 根據(jù)所述環(huán)境參數(shù)數(shù)據(jù)序列,獲取環(huán)境參數(shù)的變化趨勢(shì)特征,所述變化趨勢(shì)特征用于表征環(huán)境參數(shù)為上升或者下降的趨勢(shì)程度; 根據(jù)所述環(huán)境參數(shù)波動(dòng)特征和變化趨勢(shì)特征,得到所述干擾影響,所述干擾影響與所述環(huán)境參數(shù)波動(dòng)特征和變化趨勢(shì)特征均正相關(guān); 所述光譜曲線中所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng)前后的曲線特征的獲取過(guò)程,包括: 根據(jù)所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng),將所述光譜曲線分割成第一曲線段和第二曲線段,所述第一曲線段為所述光譜曲線中所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng)之前的曲線段,所述第二曲線段為所述光譜曲線中所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng)之后的曲線段; 獲取所述第一曲線段和第二曲線段所處區(qū)域的面積,并獲取所述第一曲線段和第二曲線段所處區(qū)域的面積差異。 2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有環(huán)境補(bǔ)償功能的MEMS光纖壓力傳感探頭,其特征在于,所述受干擾程度的獲取過(guò)程,包括: 根據(jù)所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng)和原本布拉格波長(zhǎng),獲取波長(zhǎng)差異; 根據(jù)所述面積差異、波長(zhǎng)差異和所述干擾影響,得到所述受干擾程度,所述受干擾程度與所述面積差異、波長(zhǎng)差異和所述干擾影響均正相關(guān)。 3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有環(huán)境補(bǔ)償功能的MEMS光纖壓力傳感探頭,其特征在于,所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng)的獲取過(guò)程,包括:獲取所述光譜曲線中的最大峰值點(diǎn),將所述最大峰值點(diǎn)所處位置的波長(zhǎng)作為所述實(shí)際布拉格波長(zhǎng);
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