一種存儲裝置的測試系統(tǒng)及其測試方法 技術(shù)領(lǐng)域 [0001] 本發(fā)明涉及存儲技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種存儲裝置的測試系統(tǒng)及其測試方法。 背景技術(shù) [0002] 隨著eMMC（內(nèi)嵌式存儲器標準規(guī)格）存儲芯片在電視機，機頂盒，平板電腦或手機等終端產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用，對eMMC存儲芯片的性能及可靠性要求越來越高。其中，最重要的是確保存儲在eMMC中的數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠。eMMC存儲芯片是由ARM?CPU（ARM處理器）作為控制器再加上NAND?Flash（flash存儲器的一種）構(gòu)成，其中ARM?CPU會運行控制器軟件，通常稱為固件(Firmware)。固件的主要功能是負責(zé)NAND?Flash的壞塊管理、GC（垃圾回收）、預(yù)警、提升性能及壽命，確保NAND?Flash的可靠使用。eMMC內(nèi)部主控運行的固件(Firmware)至關(guān)重要。 eMMC固件存儲的指紋、密鑰、網(wǎng)絡(luò)供應(yīng)商信息、數(shù)字權(quán)限管理和安全支付等保密信息需要專門的存儲區(qū)域保護，其中，eMMC固件處理RPMB（Replay?Protected?Memory?Block，重放保存內(nèi)存塊）能力的壓力測試對存儲芯片原廠來說是必須要做的測試驗證，固件處理RPMB能力的強度直接關(guān)系到eMMC存儲器在客戶產(chǎn)品平臺的安全性。 [0003] 現(xiàn)有的存儲器固件RPMB處理方法驗證大多基于固件內(nèi)部的白盒測試，缺乏專業(yè)全面的測試。通常固件白盒測試的條件單一，復(fù)雜度不夠，不能覆蓋客戶真實使用場景發(fā)生的各種攻擊存儲器的RPMB存儲數(shù)據(jù)的問題。以至于固件內(nèi)部驗證不充分，存儲器的存儲芯片應(yīng)用在客戶平臺時發(fā)生大量攻擊RPMB錯誤時，如果存儲器固件處理不及時，就會造成存儲數(shù)據(jù)損壞無法正常工作的嚴重問題。這是由于存儲器固件處理RPMB能力不強而可能出現(xiàn)的影響。 發(fā)明內(nèi)容 [0004] 鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本發(fā)明的目的在于提供一種存儲裝置的測試系統(tǒng)及其測試方法，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中存儲器固件內(nèi)部RPMB處理流程自測覆蓋度不足，復(fù)雜度單一，不能全面覆蓋客戶端使用存儲器的存儲芯片時可能出現(xiàn)的各種攻擊?RPMB區(qū)域Data（數(shù)據(jù)），如果存儲器固件處理不及時，就會造成存儲數(shù)據(jù)損壞無法正常工作的問題。 [0005] 為實現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供一種存儲裝置的測試系統(tǒng)，包括：測試板，用以與待測存儲器通信連接，以配置對應(yīng)的測試參數(shù)；以及處理器，用以與測試板通信連接，且被配置為：在將消息數(shù)據(jù)寫入至待測存儲器后，使其生成發(fā)生不同讀寫校驗錯誤的多個待測信息值，且再將各待測信息值依次寫入至待測存儲器中的重放保護內(nèi)存塊，以進行將各待測信息值至待測存儲器的讀寫測試，得到測試結(jié)果；處理器還被配置為在讀寫測試完成后，更改測試板的測試參數(shù)，并在更改后的測試參數(shù)下重新進行將各待測信息值至待測存儲器的讀寫測試，直至完成對所有測試參數(shù)下將各待測信息值至待測存儲器的讀寫測試。 [0006] 于本發(fā)明的一實施例中，處理器被配置為：在將消息數(shù)據(jù)寫入至待測存儲器后，使其生成完成正確讀寫校驗的預(yù)設(shè)信息值，將預(yù)設(shè)信息值進行重放保護內(nèi)存塊的讀寫，并與待測信息值的讀寫進行測試比較，得到測試結(jié)果。 [0007] 于本發(fā)明的一實施例中，處理器被配置為：在生成預(yù)設(shè)信息值之后，更改構(gòu)成預(yù)設(shè)信息值的數(shù)據(jù)架構(gòu)中的部分字段的值，使其生成待測信息值。 [0008] 于本發(fā)明的一實施例中，處理器被配置為：判斷待測信息值和預(yù)設(shè)信息值分別在寫入重放保護內(nèi)存塊時的讀寫結(jié)果是否一致，若是，則繼續(xù)完成對其余的待測信息值的讀寫測試，并在全部的待測信息值讀寫測試完成后，更改測試板的測試參數(shù)繼續(xù)讀寫測試，若否，則判斷待測存儲器固件是否正確處置重放保護內(nèi)存塊的處理流程。 [0009] 于本發(fā)明的一實施例中，處理器被配置為：根據(jù)讀寫結(jié)果不一致時的錯誤測試結(jié)果，判斷在重放保護內(nèi)存塊的響應(yīng)機制是否正確標識出對應(yīng)的錯誤測試結(jié)果，若是，則確定待測存儲器固件已正確處置重放保護內(nèi)存塊的處理流程，若否，則待測存儲器固件分析錯誤測試結(jié)果的原因，修改重放保護內(nèi)存塊的處理流程。 [0010] 于本發(fā)明的一實施例中，處理器被配置為：將至少兩個待測信息值同時寫入重放保護內(nèi)存塊后，進行待測存儲器中的重放保護內(nèi)存塊的讀寫測試。 [0011] 于本發(fā)明的一實施例中，處理器包括：錯誤處理模塊，用以根據(jù)預(yù)設(shè)信息值，生成待測信息值，并將預(yù)設(shè)信息值和待測信息值分別寫入待測存儲器的重放保護內(nèi)存塊；以及錯誤校驗?zāi)K，用以分別接收預(yù)設(shè)信息值和待測信息值寫入重放保護內(nèi)存塊時返回的讀寫結(jié)果，并判斷二者的讀寫結(jié)果是否一致，若是，則繼續(xù)完成對其余的待測信息值的讀寫測試，并在全部的待測信息值讀寫測試完成后，更改測試板的測試參數(shù)繼續(xù)讀寫測試；若否，則判斷固件存儲器固件是否正確處置重放保護內(nèi)存塊的處理流程。

1.一種存儲裝置的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括： 測試板，用以與待測存儲器通信連接，以配置對應(yīng)的測試參數(shù)；以及 處理器，用以與所述測試板通信連接，且被配置為：在將消息數(shù)據(jù)寫入至所述待測存儲器后，使其生成完成正確讀寫校驗的預(yù)設(shè)信息值，根據(jù)所述預(yù)設(shè)信息值，生成發(fā)生不同讀寫校驗錯誤的多個待測信息值，且再將所述預(yù)設(shè)信息值和所述待測信息值分別寫入所述待測存儲器的重放保護內(nèi)存塊，以進行將所述預(yù)設(shè)信息值和各所述待測信息值至所述待測存儲器的讀寫測試，得到所述預(yù)設(shè)信息值和所述待測信息值寫入所述重放保護內(nèi)存塊時返回的讀寫結(jié)果，并判斷二者的所述讀寫結(jié)果是否一致，若是，則繼續(xù)完成對其余的所述待測信息值的讀寫測試，并在全部的所述待測信息值讀寫測試完成后，更改所述測試板的測試環(huán)境繼續(xù)所述讀寫測試；若否，則判斷所述待測存儲器固件是否正確處置所述重放保護內(nèi)存塊的處理流程； 所述處理器還被配置為在所述讀寫測試完成后，更改所述測試板的測試參數(shù)，并在更改后的測試參數(shù)下重新進行將各所述待測信息值至所述待測存儲器的讀寫測試，直至完成對所有測試參數(shù)下將各所述待測信息值至所述待測存儲器的讀寫測試。 2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置的測試系統(tǒng)，其特征在于：所述處理器被配置為：在生成所述預(yù)設(shè)信息值之后，更改構(gòu)成所述預(yù)設(shè)信息值的數(shù)據(jù)架構(gòu)中的部分字段的值，使其生成所述待測信息值。 3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置的測試系統(tǒng)，其特征在于：所述處理器被配置為：根據(jù)所述讀寫結(jié)果不一致時的錯誤測試結(jié)果，判斷在所述重放保護內(nèi)存塊的響應(yīng)機制是否正確標識出對應(yīng)的所述錯誤測試結(jié)果，若是，則確定所述待測存儲器固件已正確處置所述重放保護內(nèi)存塊的處理流程，若否，則所述待測存儲器固件分析所述錯誤測試結(jié)果的原因，修改所述重放保護內(nèi)存塊的處理流程。 4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置的測試系統(tǒng)，其特征在于：所述處理器被配置為：將至少兩個所述待測信息值同時寫入所述重放保護內(nèi)存塊后，進行所述待測存儲器中的所述重放保護內(nèi)存塊的讀寫測試。 5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置的測試系統(tǒng)，其特征在于：所述處理器被配置為：所述測試參數(shù)包括對所述測試板配置時選擇的速度模式、總線長度、電壓和溫度中的其中一種或多種。 6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲裝置的測試系統(tǒng)，其特征在于：所述處理器被配置為：根據(jù)存儲芯片的類型選擇對應(yīng)的系統(tǒng)鏡像文件燒錄至所述存儲芯片中，以搭建對應(yīng)的測試環(huán)境。